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Si87xx的CMTI性能测量

发布时间:2024-05-19 发布时间:
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Silicon Labs数字隔离器(光电耦合器替代品)与标准光电耦合器之间关于共模瞬变抑制(CMTI)鲁棒性的详细对比。该视频中展示了如何使用被认可的经过校准的商业CMTI测试仪测量Si87xx数字隔离器的瞬变抑制特性,因此你能确切的了解到我们如何测量我们产品的CMTI性能。CMTI是一种在快速共模瞬变事件过程中隔离器维护数据完整性的能力。多种情况可能引起共模瞬变,例如IGBT驱动电路、快速的高电压或高电流开关负载、电机驱动和浮动电源。本地在隔离器或电路板上的寄生通路能够跨越隔离栅耦合,引起数据错误,危及系统完整性。Silicon Labs Si87xx系列产品产生的寄生电容与当前最先进的光电耦合器相比要低2-3倍。这种降低的耦合带来更高的CMTI性能,从而提高了系统可靠性和性能;这在高可靠性应用(例如电力传输和通信系统)中尤其重要。

本文引用地址:/zixunimg/eepwimg/www.eepw.com.cn/article/192788.htm

详情请看视频,地址为:/zixunimg/eepwimg/bbs.21ic.com/icview-550364-1-1.html

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