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低电压检测IC的复位电路

发布时间:2020-07-13 发布时间:
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低电压检测IC的复位电路

• 当内建的低电压复位电路的电压与应用规格不同时,可选用外部低电压检测IC 的复位电路。
• 可提供低电压复位功能,需配合外部简易型RC 复位电路或高抗干扰RC 复位电路来达到完整的复位功能。
• RRES、CRES、RN 和CN 的建议数值与简易型RC 复位电路及高抗干扰RC 复位电路相同。
• CRES(针对简易型RC 复位电路)和CN(针对高抗干扰RC 复位电路)在PCB 板上的位置及布线要求与简易型RC复位电路及高抗干扰RC 复位电路相同。

内部POR 电路和内部低电压复位电路
• 为加强MCU 的保护完整性,并简化外部应用电路设计及成本,在MCU 内部提供有上电复位(POR)电路和低电压复位(LVR)电路。
• POR 电路主要是内建一组低RC 时间常数的复位电路,具有上电时产生复位的功能。其对MCU 内部的初始化动作,除了TO 和PDF 旗标被清为“0”之外,其余的状态均与RES 复位相同。当使用此复位功能时,因POR 时间常数较小,为了使POR 可以正常动作,电源上升速度应尽量要求快速。
• LVR 电路主要功能是当VDD 小于特定电压(视规格而定),且持续时间大于1ms 时,LVR 将会被激活,其对MCU 内部的初始化动作与RES 复位相同

 

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