×
嵌入式 > 技术百科 > 详情

【干货分析】小间距QFN封装PCB设计的串扰抑制

发布时间:2024-05-17 发布时间:
|
【导读】随着电路设计高速高密的发展趋势,QFN封装已经有0.5mm pitch甚至更小pitch的应用。由小间距QFN封装的器件引入的PCB走线扇出区域的串扰问题也随着传输速率的升高而越来越突出。
   
随着电路设计高速高密的发展趋势,QFN封装已经有0.5mm pitch甚至更小pitch的应用。由小间距QFN封装的器件引入的PCB走线扇出区域的串扰问题也随着传输速率的升高而越来越突出。对于8Gbps及以上的高速应用更应该注意避免此类问题,为高速数字传输链路提供更多裕量。本文针对PCB设计中由小间距QFN封装引入串扰的抑制方法进行了仿真分析,为此类设计提供参考。
 
问题分析
在PCB设计中,QFN封装的器件通常使用微带线从TOP或者BOTTOM层扇出。对于小间距的QFN封装,需要在扇出区域注意微带线之间的距离以及并行走线的长度。图一是一个0.5 pitch QFN封装的尺寸标注图。
 
图一:0.5 pitch QFN封装尺寸标注图
 
图二是一个使用0.5mm pitch QFN封装的典型的1.6mm 板厚的6层板PCB设计:
 
图二:QFN封装PCB设计TOP层走线
 
差分线走线线宽/线距为:8/10, 走线距离参考层7mil,板材为FR4.
 
图三:PCB差分走线间距与叠层
 
从上述设计我们可以看出,在扇出区域差分对间间距和差分对内的线间距相当,会使差分 对间的串扰增大。
 
图四是上述设计的差分模式的近端串扰和远端串扰的仿真结果,图中D1~D6是差分端口。
 
图四:差分模式端口定义及串扰仿真结果
 
从仿真结果可以看出,即使在并行走线较短的情况下,差分端口D1对D2的近端串扰在5GHz超过了-40dB,在10GHz达到了-32dB,远端串扰在15GHz达到了-40dB。对于10Gbps及以上的应用而言,需要对此处的串扰进行优化,将串扰控制到-40dB以下。
 
优化方案分析
对于PCB设计来说,比较直接的优化方法是采用紧耦合的差分走线,增加差分对间的走线间距,并减小差分对之间的并行走线距离。
 
图五是针对上述设计使用紧耦合差分线进行串扰优化的一个实例:
 
图五 紧耦合差分布线图
 
图六是上述设计的差分模式的近端串扰和远端串扰的仿真结果:
 
图六 紧耦合差分端口定义及串扰仿真结果
 
从优化后的仿真结果可以看出,使用紧耦合并增加差分对之间的间距可以使差分对间的近端串扰在0~20G的频率范围内减小4.8~6.95dB。远端串扰在5G~20G的频率范围内减小约1.7~5.9dB。
 
表一 近端串扰优化统计
 
表二 远端串扰优化统计
 
除了在布线时拉开差分对之间的间距并减小并行距离之外,我们还可以调整差分线走线层和参考平面的距离来抑制串扰。距离参考层越近,越有利于抑制串扰。在采用紧耦合走线方式的基础上,我们将TOP层与其参考层之间的距离由7mil调整到4mil。
 
图七 叠层调整示意图
 
根据上述优化进行仿真,仿真结果如下图:
 
图八 叠层调整后串扰仿真结果
 
值得注意的是,当我们调整了走线与参考平面的距离之后,差分线的阻抗也随之发生变化,需要调整差分走线满足目标阻抗的要求。芯片的SMT焊盘距离参考平面距离变小之后阻抗也会变低,需要在SMT焊盘的参考平面上进行挖空处理来优化SMT焊盘的阻抗。具体挖空的尺寸需要根据叠层情况进行仿真来确定。
 
图九 叠层调整后QFN焊盘阻抗优化示意图
 
从仿真结果可以看出,调整走线与参考平面的距离后,使用紧耦合并增加差分对之间的间距可以使差分对间的近端串扰在0~20G的频率范围内减小8.8~12.3dB。远端串扰在0~20G范围内减小了2.8~9.3dB。
 
表三 近端串扰优化统计
 
表四 远端串扰优化统计
 
结论
 
通过仿真优化我们可以将由小间距QFN封装在PCB上引起的近端差分串扰减小8~12dB,远端串扰减小3~9dB,为高速数据传输通道提供更多裕量。本文涉及的串扰抑制方法可以在制定PCB布线规则和叠层时综合考虑,在PCB设计初期避免由小间距QFN封装带来的串扰风险。
 
(来源:志博PCB,作者: 杨多多)

免责声明:本文为转载文章,转载此文目的在于传递更多信息,版权归原作者所有。本文所用视频、图片、文字如涉及作品版权问题,请联系小编进行处理。
 
 
推荐阅读:
如何实现IGBT/MOSFET隔离栅极驱动电路?
一文教会你如何选择隔离电源,并非越贵越好哟
最全讲解——无刷电机工作及控制原理
详解220 V精密运算放大器
详解高集成度模拟前端AFE AD7124在RTD测温场合的应用

『本文转载自网络,版权归原作者所有,如有侵权请联系删除』

热门文章 更多
Keil5(MDK5)在调试(debug)过程中遇到的问题