×
ATE以它的通用性、标准性、便捷性以及开放性迅速成为集成电路测试行业的主流。
传统的lCATE按测试门类分为以下几种功能类型。
数字测试系统——共享资源测试系统，每个管脚具有独立测试资源。用于特性化测试SN74LS247集成电路的逻辑功能。
线性器件测试系统——用于测试线性集成电路的测试系统。
模拟测试系统——用于特性化测试集成电路的模拟功能。
存储器测试系统-DRAM测试泵统，闪存测试系统。用于验证内存芯片。
混合信号测试系统——测试集成电路的模拟及数字功能。
RF测试系统——用于射频集成电路芯片测试。
40多年来，集成电路测试技术与集成电路技术本身同步发展，集成电路ATE经历了从最初测试小规模集成电路发展到测试中规模、大规模集成电路以及测试超大规模集成电路的历程。通常把整个发展历程分为四个时代。始于1965年的第一代ATE采用24位、10MHz计算机控制，能对小规模集成模拟器件和门电路器件进行简单测试。第二代始于1969年的计算机控制的测试仪，用于中规模集成电路，可测管脚数24个，不但能测试IC的直流参数，还可用低速图形测试lC的逻辑功能。第三代始于1972年，测量对象扩展到大规模集成电路，可测管脚数达60个，功能测试图形速率提高到10MHz、20MHz。1980年进入第四代，以计算机控制为主导的测试系统，测量对象为超大规模集成电路，可测管脚数高达256个，功能测试图形速率高达100MHz，测试图形深度可达256K以上。此后，测试设备的智能化水平进一步提高，以SoC为主要被测对象的新型ATE相继诞生。现在测试仪的功能测试速率已达500MHz以上，可测管脚数乡达1024个，定时精度±55ps。
新型测试系统达到了高指标、高性能，同时又能满足用户对不同指标的需求。在硬件上是模块化结构的多功能集成平台，冲破了传统的ATE产品各自独立的单机模式，可以在一个平台上，同时测试数字、模拟、数／模混合、高速总线、射频和存储器等各类器件，还可以满足IC的设计验证、特性分析和量产测试，实现了器件的设计——验证——测试一体化。
模块化结构还便于用户灵活选择、任意搭配所需的配置。这类系统普遍具有通道混合功能，可以将低速（如250MHz）与高速（如4GHz）测试需求在一个测试平台上完成。系统升级方便，软件的更新换代，更能适应SoC和ASIC器件的开发与测试。
『本文转载自网络,版权归原作者所有,如有侵权请联系删除』
热门文章
更多
FPGA及CPLD应用领域不断拓展
APP下载
登录
