横跨多重电子应用领域、全球领先的半导体供应商意法半导体 (STMicroelectronics，简称ST) 和世界领先的功能性安全解决方案提供商YOGITECH合作，成功开发出一套具有绝佳灵活性的软件设计支持组件，助于于简化基于STM32微控制器的安全关键系统 (safety-critical system) 的开发和认证过程。

该合作项目始于2013年11月，目前已开发出一套STM32应用设计安全手册，以及符合IEC61508:2010功能性安全标准的软件测试库 (fRSTL)。YOGITECH使用其获得专利的fRMethodology白盒 (white-box) 安全分析和功能验证方法创建fRSTL软件测试库和相关工具套件 (fRTools)，可确保诊断测试覆盖率比传统黑盒 (black-box) 测试更准确可靠。

客户可以选择参照STM32安全手册开发自己的软件测试库。这些安全手册可从意法半导体官方网站免费下载。另一方面，YOGITECH fRSTL_stm32测试库还可以提供一个能够加快IEC 61508功能性安全标准完整性级别 (SIL) 2/3认证的一揽子软件测试库，同时还能最大限度降低测试成本和开发风险。每种方法都可以建立一个符合工业标准且基于STM32微控制器的安全关键系统，且无需使用一个指定的片上内置诊断电路专用的安全微控制器。

意法半导体微控制器产品部总经理Michel Buffa表示：“随着我们安全设计组件的推出，STM32微控制器系列产品为范围更广、符合IEC 61508安全关键标准的工业应用提供最理想的解决方案。安全手册则提供了必要的指引和示例，示范如何在安全环境中正确使用STM32微控制器，同时价格实惠的YOGITECH测试库有助于加快安全标准完整性等级认证过程，并成功通过最终认证。”

安全手册和软件库可支持STM32 F0、F1、F2、F3、F4和L1系列，这六大系列共有500余款高性能、安全关键应用功能丰富的产品。近期意法半导体还将增加对STM32其它系列产品的支持。fRSTL 软件库的系统性功能 (SC3) 通过了德国莱茵 (TÜV Rheinland) 公司按照IEC61508:2010功能性安全标准进行的认证测试，其诊断覆盖率也通过了用于最高并包括SIL2 (硬件容错-HFT=0) 和 SIL3 (HFT=1) 应用的直流容错模型测试。安全手册还可指导工程师如何操作其它功能性安全标准下的测试结果，例如ISO 13849、IEC 62061、IEC 61800、IEC 60730和ISO 26262等功能性安全标准。