APS像素阵列中同一列的每一个像素上，都有一个共享的列像素信号输出端(Column Output)，如图所示。每一列像素的这个共享输出端，都经过一个列模拟信号通道，处理和放大这一列像素的图像信号。在这个通道中，首先有一个由模拟电压Vb偏置的恒流源，它是本列中每一个像素上源极跟随器Tsf通过选择开关Tsel连接的公共负载。在每一个列通道中还有一个重要的结构，就是相关双取样电路CDS(Correlated Double Sampling)。这是一个模拟信号处理电路，它对每个像素光电二极管PD上的电压信号，进行两次取样：第一次取样在PD刚刚被预置到电压Vrst - Vsat之后，当曝光刚刚开始的时刻;第二次取样在曝光完成的时刻。把与这两次相关信号取样的电压差值对应的电压，作为像素的光电信息输出，因此被称为相关双取样电路。

为什么要采用相关双取样电路处理图像信息?首先必须了解CMOS成像器图像的固定图样噪声FPN(Fixed Pattern Noise)问题，在CMOS成像器的芯片上，每个像素和每个像素阵列的几何尺寸都必须满足光学系统的要求。在当前，通常像素的尺寸在1.7微米到20微米之间，阵列尺寸在约2mm2到1000mm2数量级之间。在以微米、亚微米尺度构建晶体管的CMOS芯片上，阵列面积的尺寸是相当“巨大”的。由于工艺不均匀的原因，每个APS像素上的有源器件，在如此大的阵列面积上，会有参数的随几何位置不同而有差异。例如，重置晶体管Trst的饱和电压Vsat，在阵列不同位置上像素中的差异，会引起光电二极管的重置电压Vrst – Vsat在阵列上的差异。这个差异会产生一个虚假的图形，叠加在真正对应光学图像的信号上。这个虚假的图形仅与阵列制造过程的不均匀有关，在制造过程完成后是不会改变的，与真实光学图像无关，因此被称为固定图样噪声FPN。相关双取样CDS电路的输出，对应于两次取样值的差，即曝光曲线的斜率，而不是一次取样的绝对值，因而消除了重置管Vsat差异而产生的固定图样噪声。

相关双取样CDS功能通常用开关电容放大器电路实现，一种常见的CDS电路结构如图所示。列输出(Column Output)的模拟信号分别经过由CKR和CKS信号控制的采样模拟开关，存储在两个保持电容CR和CS上。CKO信号控制另外两个模拟开关，同时把两个电容上的电压，分别连接到差分放大器的正负输入端，使放大器输出与这两个信号的差值相关的电压。相关双取样CDS的工作时序如图中B所示，在像素的曝光过程开始时，当光电二极管PD被Reset控制重置到Vrst-Vsat电压后，开关CKR开启，曝光初始的VPD信号电压被采样保持到电容CR上，形成第一次采样。当曝光结束时，CKS开启，VPD信号电压被采样保持到电容CS上，实现第二次采样。然后CKO同时控制两个开关开启，电压差VCS – VCR = Vout输入到差分放大器输入端。从CDS的工作过程可以看出，输出的模拟信号值是两次采样的差值，而不是光电二极管曝光后的信号绝对值，从而消除了重置开关Trst参数分布的影响。

相关双取样电路CDS改进了固定图样噪声，被认为是CMOS成像器得到发展的关键一步。CMOS成像器的早期开拓者们，曾设想模拟信号处理可以广泛应用到APS像素阵列中去，而相关双取样电路是至今仍被最广泛应用在CMOS成像器设计中的一种模拟信号处理方法。

从列通道输出的图像光电信号，经过列模拟开关依次转换输出。列通道输出依次切换的过程，实现图像信息的水平扫描。图像模拟信号经过一个可变增益的宽带放大器放大，可以经过功率推动直接输出片外，作为模拟图像信号输出，也可以经过模数变换电路，输出数字图像信号。而数字图像信号还可以用各种先进的数字信号处理算法，在数字信号处理器DSP和微机中进行改善、增强、压缩，甚至于图像识别和跟踪等等处理。下一期话题将探讨高清晰度和高速CMOS成像器。