深耕于开发内存测试与修复技术的芯测科技(iSTART-Tek，简称 iSTART)，宣布武汉飞思灵微电子采用芯测科技 START™内存测试与修复整合性电路开发环境于芯片设计中。透过 START™内建完整的测试算法选项与友善的图形用户界面（GUI），能大幅缩减内存测试电路开发时间、加速产品上市的时间，充分符合客户在成本和产品可靠性的需求。

 

芯测科技客户销售部协理李玉如表示「随着 5G 相关芯片的开发，这类应用的芯片更需要广泛使用到内存，因此内存测试与修复的工程显得格外重要，而芯测科技透过客制化与实时的服务，赢得客户的青睐。」

 

武汉飞思灵微电子技术有限公司隶属于烽火通信科技股份有限公司，专注于光通信系统设备及光模块器件的各类核心芯片研发与设计，是一家集成电路设计服务提供商，主要从事 OTN、PTN、PON 和光模块芯片的开发和研究，提供 PDH、SDH、MSTP、PTN 等芯片解决方案。

 

芯测科技是目前提供可测试性设计解决方案的领导厂商，『START™内存测试与修复整合性电路开发环境』是秉持着帮助开发者以更自动化、更快速的途径实现多功能的内存测试与修复电路的 EDA 工具。凭借高效能、低功耗与可程序化暨管线式架构内存测试技术，从整体的芯片设计切入，并且具有完善测试算法、硬件架构共享、诊断信息纪录、POT/DMT、与设计电路自动整合等完整功能，可配合 Bottom-up、低功耗等设计流程。让用户能轻易产生优化的内存测试与修复电路，大幅降低设计与测试成本并提升芯片良率，提高产业竞争力。