德州仪器(TI)于今日推出一款新型超高速模数转换器(ADC),具有业界较宽的带宽、领先的采样率和低功耗。ADC12DJ5200RF 可以帮助工程师实现 5G 测试应用和示波器的高精度测量,以及雷达应用的直接 x 波段采样。有关更多信息,敬请访 www.ti.com/ADC12DJ5200RF-pr。
 
TI 将于 2019 年 6 月 4 日至 6 日在波士顿举行的国际微波研讨会(IMS)上的 1272 号展位上展示 ADC12DJ5200RF。
 
在更宽的频谱范围内实现更快测量
更宽频宽:在 8 GHz 频率下,ADC12DJ5200RF 可以让工程师实现高达 20%的模拟输入带宽,并且能够直接将非常高的频率数字化,而无需额外的功耗、成本和下变频尺寸。
 
更快的 12 位 ADC:在双通道模式下,ADC12DJ5200RF 采样速率为 5.2 gigasamples / s(GSPS),并以 12 位分辨率捕获高达 2.6 GHz 的瞬时带宽(IBW)。在单通道模式下,新的超高速 ADC 采样速率为 10.4 GSPS,可捕获高达 5.2 GHz 的 IBW。
 
高效接口:作为第一款支持 JESD204C 标准接口的独立 GSPS ADC,ADC12DJ5200RF 有助于最大限度地减少向现场可编程门阵列(FPGA)输出数据所需的串行器 / 解串器通道数量,从而让设计人员能够实现更高的数据速率。
 
在电源和温度变化范围内具有高性能和稳定性的设计
高信号检测灵敏度:ADC12DJ5200RF 在电源变化范围内具有最高的动态性能,即使在最低规格下也是如此,通过提供超高灵敏度的接收器,可以检测到是最小和最弱的信号,从而提高信号智能。此外,该器件还包括内部高频振动,可提高无杂波干扰性能。
 
高测量精度:TI 的新型超高速 ADC 极大地降低了系统误差,偏移误差低至±300 µV,以及零点温度漂移。 
 
更低的 CER:设计测试和测量设备的工程师可以充分利用 ADC12DJ5200RF 的极低误码率(CER)实现高测量可重复性。
 
将解决方案尺寸减小 30%,功耗降低 20%
更小的占用面积:ADC12DJ5200RF 的尺寸为 10 mm×10 mm,比离散的解决方案小 30%,可帮助工程师节省电路板空间。这种新型超高速 ADC 还能够减少通道数量,有助于采用更小的印刷电路板设计。
 
降低功耗:ADC12DJ5200RF 4-W 的低能耗可以帮助工程师最大限度地降低散热并简化设计中的整体热管理,在同类产品中表现突出。
 
加快设计的工具和支持
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