TEC测试和控制
许多激光二极管模组配备了半导体制冷器（帕尔贴器件）。一般地，可以用TEC控制器在LIV测试扫描中控制整个模组的温度。还可以调节温度设定点来对TEC的功能进行校验，并可在达到新的设定温度之后检验热敏电阻的阻值。
过大的机械剪切载荷可能是最常见的帕尔贴器件失效机理。在传送和安装帕尔贴器件过程中，机械剪切载荷会导致器件的部分或全部元件的分层或破损。简单的交流或反向直流电阻测试可以在安装前后确定帕尔贴器件的质量。由于组成元件的自加热效应以及随之而来的热偏移导致直流电阻测量结果并不准确。2510-AT型TEC 源表可以提供所需的双极源电流和电压测量，方便进行这项测试。
隔离测试
利用开关矩阵可以在激光二极管模组的各个组成元件中方便地进行隔离测试。举例来说，热敏电阻与激光二极管间的电隔离可以通过在热敏电阻和激光二极管之间施加电压，同时保持热敏电阻和激光二极管各自的两个端子上具有相同的电势，来进行测试，上述措施可以避免电流流过各个元件本身。
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