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对于LTE的物理层的多址方案，在下行方向上采用基于循环前缀的正交频分复用(OFDM)，在上行方向上采用基于循环前缀的单载波频分多址(SC-FDMA)。为了支持成对的和不成对的频谱，支持频分双工(FDD)模式和时分双工(TDD)模式，目前国内所用的TD-SCDMA就是支持时分双工(TDD)模式的，在国外比如在美国就支持频分双工(FDD)模式。
就现实情况来说，目前大部分的应用还是频分双工(FDD)的模式，其在美国FCC认证中所适用的标准是FCC 47 CFR Part 27部分。在这一标准里规定了使用的band为LTE Band 4与LTE Band 17。具体的测试项目如下：
| No. | Section | Description |
| 1 | 2.1046 | Transmitter Conducted Output Power |
| 2 | 2.1049、27.53(g) | Occupied Bandwidth |
| 3 | 2.1055、27.54 | Frequency Stability |
| 4 | 27.50(d) (5) | Peak to Average Radio |
| 5 | 2.1051、27.53(g) | Conducted Spurious Emissions |
| 6 | 27.53(g)(h) | Band Edge |
| 7 | 2.1046、27.50 (d)(4) | Equivalent Isotropic Radiated Power |
| 8 | 2.1053、27.53(g) | Radiated Spurious Emissions |
（表1）
如表1所示，LTE的测试项总共有八项，其中第四项测试PAR（Peak to Average Radio）为一项新的测试，其他的几项测试跟Part 22&24大同小异。
下图是Peak to Average Radio的解释结果。
图1
具体测试流程如下：
1，首先我门要再屏蔽室中搭建测试系统，所用到的测试设备包括了频谱仪、LTE测试系统、功分器（将功率衰减大的一端接到频谱仪器上）如图2。
2，连接MS（EUT），进入测试的时候我门要一定要注意被测MS的设置问题，另外我门要检查射频线、频谱仪接口是否连接完好。
3，选择频谱仪中frequency center选项设置中心频率，然后进入Measure设置信道带宽，也就是设置Span的宽度（一般大于产品的占用带宽）与射频线的补偿值。
4，然后进入频谱仪Power Star CCDF选项中，设置需要采样的个数（频率点采样数）。
5，频谱仪设置完后将MS与基站连接通信，将产品调节到最大发射功率，此时一定要记得LTE测试分别有这不同的RB（资源快）不同的调制方式，根据认证机构规定，几种情况的组合都必须测完。
6，在频谱仪中看到信号出来的时候进入Single选件，将波形定住，图1就是我们所需要的结果。
一般来说测量的次数在三次以上，然后截取图片保存，我们可以看见图1中0.1%的时候峰值与均值的比为4.19dBm，标FCC准规定PAR的0.1%功率比不能超过13dBm。
那么早期的频谱是没有Power Star CCDF的测试功能，是设置完一个频段取mark点的功率值，然后分别算出均值与峰值的数据作为比较。所以在测试的时候需要保存数据，就要选择新一代的频谱仪测试。
在这里我们只简单介绍了LTE（FDD）产品发射机传导方式部分的测试，如果想了解更多的测试信息可联系就近的摩尔实验室（MORLAB）。
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