本文讨论了如何用一种六反相器IC做出四种测试件：一个有良好定义逻辑电压窗口的逻辑笔，输入阻抗约为1MΩ；一个开路测试仪，上限电阻可以从几十欧到几十兆欧；一个单脉冲或脉冲串注入器或简单的信号发生器；还有一个是高阻音频探头。使用一只4069中的六个反相门、两或三只电阻，以及少许无源元件，就可以做出这些测试仪器。

在双门构成的CMOS/TTL兼容探头中，R1至R4电阻网络对反相器输入端做偏置（图1）。由于门有高输入阻抗，因此R1至R4的值在大约100kΩ到1MΩ。探头尖的吸入/供出电流很小，因为R1至R4有高阻抗，因此，探头尖基本上不影响测试点的逻辑电平。知道了门的输入阈值电压后，就可以计算出所需要的R1至R4电阻值。

图1：在双门构成的CMOS/TTL兼容探头中，R1至R4电阻网络对反相器输入端做偏置

图2：这个单门构成的开路测试仪有可调的检测阀值

上方的门检测逻辑0，下方的门检测逻辑1.将上限设定了逻辑0的电压，计算出R1和R2的值。任意选择R1= 1MΩ，去找一个R2的值，使得上方门输入端的电压正好是阈值电压。于是R2=R1 （VT-VL）/ （VS-VT），其中VT是阈值电压，VL是逻辑0电压，而VS是电源电压。同样，给逻辑1电压VT设定一个下限，按R3来寻找一个R4的值。适当地选择R3，此时要注意各个门的静态偏置，从而在探头悬浮状态下使各个LED熄灭，就可以得到R4的值：R4=R3VT/（VH-VT）。

下式计算探头的电流：IP=[-（V-VI）（R3+ R4）+VI （R1+R2）]/（R1+R2）（R3+R4），其中IP是探头电流，VI是探头尖的电压。因此，对探头尖上的任何电压，探头阻抗均大于1MΩ。对于有更高阈值电压的4069封装（如3V），可以在正电源轨与芯片之间接一个二极管再跟随一个10kΩ接地负载电阻，有助于降低这个电压。

开发人员经常使用的开路测试仪（图2）是基本的测试设备；这些测试仪是工作台上不可缺少的装备。用4069的一个门（有高输入阻抗，以及门输出转换的阈值电压）可以做成开路测试仪，其上限是测试电路的电阻。探头之间的总阻抗以及开关结构的电阻构成了一个分压网络，在门的输入端产生一个电压。当两个电阻相等时，门输入端的电压为电源电压的一半。门的转换阈值电压也接近于电源电压的一半，因此，开关分支选择的电阻就设定了近似的开路测试电阻。

另一种有用的结构是用一只可变电阻代替可切换电阻。这种方法可以通过调节可变电阻，在考虑到探头尖之间的电阻，以及LED的发热后，任意设定开路测试电阻。可变电阻的设置应使得LED正好熄灭。这种方法获得了一个紧凑的结构，可以装入一个小封装内。另外一只可变电阻（1kΩ到2kΩ）与负探头串联，从而能够做大约100Ω或更小的开路电阻测试。另外还可以使用有较低转换阈值电压的门，方法是用一对二极管跟随一个10kΩ的负载电阻，从正电源轨串联到地。这种结构也可以经过适当修改后，用于测试有电的交流电线（参考文献3），这样就做出了五种设备。

现在4069封装中还有三个门，其中两个可以做一个非稳振荡器/单稳式单脉冲发生器电路，一个互补双极管对缓冲器用于增加驱动电流（图3）。一只SPDT（单刀双掷）开关切换到P（脉冲）或A（非稳），就可以在两种方式之间选择。在脉冲模式下，按开关可在输入端产生一个简单的负向脉冲，送至第二个门，因为C2开始充电，门输出端获得的高电平在Q1与Q2的结点处产生一个正向脉冲。这个脉冲也被锁定，开关去颤是通过电容C1的正反馈，它以R1、R2或R3决定的时间常数开始充电。当C1上的电压等于阈值电压时，第二个门的输出再次通过C1的正反馈而返回为低，将第二个门的输入端驱动为高，结束脉冲。