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大量均匀分布几何元素的快速测量方法

发布时间:2024-03-14 发布时间:
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在实际测量中,当需要对同一工件上大量同类的基元进行测量时,如果对每一个基元都用手动方式进行测量,则需要花费很多时间及精力。天准公司自主研发的VM系列自动影像测量仪特别针对这一需求开发了基元复制功能,质检人员利用这一功能,可以大大提高测量效率。

在测量中,高级复制功能有3种操作可供选择:平移复制、旋转复制和镜像复制。下面依次说明如何使用这些功能。

一、平移复制

当大量同类型基元规则的平行分布时,可以使用平移复制来完成测量。

举例说明:如图1所示的工件,需要测量5行6列所有完整的圆,已知圆与圆之间等距(圆心距离:X=3mm,Y=3mm),那么可依据以下步骤快速编程来进行测量。

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图1 工件图像

1. 先测量左上方第一个圆(图2中桔黄色的圆圈标注),接着利用平移复制功能向右复制5个圆、向下复制4个圆;

2. 在第一个基元上点击右键,选择菜单中的“复制基元”,出现如图2所示窗口;

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图2 准备复制

3. 在复制窗口中置X平移为“3mm”(圆间X轴距离),复制个数填写“5”,按确认后,图中第一个圆右方将标出5个圆(如图3所示);

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图3 复制X向基元

4. 选中这六个圆后再进行复制,并在复制窗口内的Y输入“3”,复制个数输入“4”,点击“确认”,将出现图4所示;

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图4 复制Y向基元

此时,软件程序已经在编程窗口建立了测量流程,只需点击任务控制区的“运行”按钮,计算机将自动测量所有的圆并显示出测量结果。

二、旋转复制

当工件上同类基元以相同的角度规则分布时,则可以利用旋转复制快速的测量。

举例说明:如图5所示,需要测量图像上的4个圆。

首先提取中心圆,以圆心为原点建立坐标系;

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图5 建立坐标系

1. 提取一个要测量的圆,如图6;

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图6 提取圆

2. 在该圆上点击右键,选择“基元复制”,并选中“旋转复制”,输入旋转角度90度,复制个数3个;得到图8所示基元,便可以开始自动测量了。


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