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tem和sem的优缺点与区别

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　　SEM，全称为扫描电子显微镜，又称扫描电镜，英文名Scanning Electronic Microscopy.

　　SEM：即扫描电子显微镜，是1965年发明的较现代的细胞生物学研究工具，主要是利用二次电子信号成像来观察样品的表面形态，即用极狭窄的电子束去扫描样品，通过电子束与样品的相互作用产生各种效应，其中主要是样品的二次电子发射。二次电子能够产生样品表面放大的形貌像，这个像是在样品被扫描时按时序建立起来的，即使用逐点成像的方法获得放大像。

　　SEM的优点：

　　（一）能够直接观察样品表面的结构，样品的尺寸可大至120mm×80mm×50mm。

　　（二）样品制备过程简单，不用切成薄片。

　　（三）样品可以在样品室中作三度空间的平移和旋转，因此，可以从各种角度对样品进行观察。

　　（四）景深大，图象富有立体感。扫描电镜的景深较光学显微镜大几百倍，比透射电镜大几十倍。

　　（五）图象的放大范围广，分辨率也比较高。可放大十几倍到几十万倍，它基本上包括了从放大镜、光学显微镜直到透射电镜的放大范围。分辨率介于光学显微镜与透射电镜之间，可达3nm。

　　（六）电子束对样品的损伤与污染程度较小。

　　（七）在观察形貌的同时，还可利用从样品发出的其他信号作微区成分分析。

　　SEM的缺点：

　　①异常反差。由于荷电效应，二次电子发射受到不规则影响，造成图像一部分异常亮，另一部分变暗。

　　②图像畸形。由于静电场作用使电子束被不规则地偏转，结果造成图像畸变或出现阶段差。

　　③图像漂移。由于静电场作用使电子束不规则偏移引起图像的漂移。 ④亮点与亮线。带电样品常常发生不规则放电，结果图像中出现不规则的亮点和亮线。

　　TEM，全称为透射电子显微镜，又称透射电镜，英文名Transmission Electron Microscope.

　　TEM：即透射电子显微镜，简称透射电镜，是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关，因此可以形成明暗不同的影像。通常，透射电子显微镜的分辨率为0.1～0.2nm，放大倍数为几万～百万倍，用于观察超微结构，即小于0.2微米、光学显微镜下无法看清的结构，又称“亚显微结构”

　　TEM的优点：

　　光学镜和透射电子显微镜都使用用薄片的样品，而透射电子显微镜的优点是，它比光学显微镜更大程度的放大标本。放大10000倍或以上是可能的，这使科学家可以看到非常小的结构。对于生物学家，如线粒体和细胞器，细胞，内部运作都清晰可见。透射电镜标本的晶体结构提供了出色的分辨率，甚至可以显示样本内的原子排列。

　　TEM的缺点：

　　透射电子显微镜需要在一个真空室制备标本。由于这一要求，在显微镜可以用来观察活标本，如原生动物，。一些微妙的样品也可能被损坏的电子束，必须先用化学染色或涂层来保护他们。这种治疗有时会破坏试样。

　　SEM与TEM的区别

　　1、SEM样品收集的有二次电子和背散射电子，二次电子用于表面成像，背散射用于不同平均原子量之间的像，就是电子打在样品上，激发出来的二次电子和背散射电子被收集而成的像。 TEM是透射电镜，它可以表征样品的质厚衬度，也可以表征样品的内部晶格结构。投射电镜的分辨率比扫描电镜要高一些。

　　2、SEM金相试样即可，TEM则要求试样必须有很薄的薄区，20~40μm。 SEM样品普通的金相样品就可以拿去做，而TEM样品观察的部分必须减薄到100nm厚度以下，一般做成直径3mm的片，然后去做离子减薄，或双喷。SEM对样品唯一的要求就是导电，如果不导电就要喷碳或者喷金；TEM可以直接观察不导电的样品。以上这两种方法，都要求样品无磁性，要是有磁性会对结果产生一定的影响。

　　从原理上说SEM是接受二次电子或者是背散射电子 TEM接收的是透射电子

　　SEM主要观察形貌，图片的立体感强

　　TEM对于很薄的样品也可以看形貌（景深较小），其主要观测的是衍射电子图和晶格像（高分辨）

　　简单的说SEM只能观测形貌（当然背散射像也能大概看出轻重元素分布） TEM可以测定结构