硬件故障植入单元提高HIL测试系统的安全性与可靠性
基于硬件故障植入单元提高HIL测试系统的安全性与可靠性-在许多硬件在环(HIL)试系统中.硬件故障植入用于在电子控制单元(ECU)与系统其他部分之间添加信号故障.进而测试.特性描述或验证ECU在特定失效条件下的性能. 故障植入通常用于特定ECU(如汽车.飞机.航天器和机械的 ECU)需要对故障条件产生已知且可接受的响应的情况. 这一操作需要将故障植入单元(FIU)安装到测试系统I/O接口和ECU之间.使测试系统可在正常运行与故障状态 (如电池短路.接地短路或开路)之间切换.