为什么要发展测试友好技术
过去，若某一产品在上一测试点不能测试，那么这个问题就被简单地推移到直一个测试
点上去。如果产品缺陷在生产测试中不能发现，则此缺陷的识别与诊断也会简单地被推移到
功能和系统测试中去。
相反地，今天人们试图尽可能提前发现缺陷，它的好处不仅仅是成本低，更重要的是今
天的产品非常复杂，某些制造缺陷在功能测试中可能根本检查不出来。例如某些要预先装软
件或编程的元件，就存在这样的问题。（如快闪存储器或ISPs：In-System Programmable
Devices 系统内可编程器件）。这些元件的编程必须在研制开发阶段就计划好，而测试系统
也必须掌握这种编程。
测试友好的电路设计要费一些钱，然而，测试困难的电路设计费的钱会更多。测试本身
是有成本的，测试成本随着测试级数的增加而加大；从在线测试到功能测试以及系统测试，
测试费用越来越大。如果跳过其中一项测试，所耗费用甚至会更大。
一般的规则是每增加一级测试费用的增加系数是10 倍。通过测试友好的电路设计，可以及早发现故障，从而使测试友好的电路设计所费的钱迅速地得到补偿。
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