LabVIEW的信号处理方法-EDA365

相位差测试哪种方法最好用？

有两个同频率的正弦信号，想测试它们的频率和相位差。有三种方法：过零检测法、相关分析法、频谱分析法。
哪种方法最好编程和精度最高？用软件来完成的话，对信号要做什么处理？
直接是在数采卡采集范围内的正弦信号就行？做的思路是不是先采集两路信号过来，然后再用各种函数进行分析？
A：
相位差式扭矩传感器的信号测量，都是用程序处理的，而且结果都还不错
两种方法：
一种是直接将正弦信号采集进来，然后利用labview的相位分析控件求得相位差，这种方法的缺点是在高速旋转时需要极高的采样率，通常我们一块6025的AI只能用来采这两路信号。
另一种方法是在外围用数字电路将两路信号整定成方波，然后用门将表示相位差的方波做出来，然后用计数器口的脉宽测试功能求出具体相位差。
Q：
四川诚邦NJ型扭矩传感器。转速不高，最高1150转，而且我常用的是300转左右。用那种方法好用一些？
如果要用计数器的话，用几个？我的卡只有两个计数器。
A：
如果是直接采的话采样率肯定越高越好
不过可以估算：0到90度对应量程Mn.m
n=转速rpm*每转输出脉冲/60代表每秒产生的正弦波个数
假设采样率N,那么N/n代表采样每个正弦波的点数。(360/(N/n))/90*M就代表扭矩分辨率了，看你要求的精度可以估算大体采样率
直采的两路信号分别用WaveformMeasurement下的ExtractSingleToneInformation.vi计算出相位，然后两路相减就可以求出相位差
如果采用外部先处理的话也很简单，先把两路信号通过过零检测芯片。
整为两路方波信号，然后通过一个或非逻辑将两路方波信号的相位差处理出来，成为一路方波信号，信号的高电平代表相位差，整个周期当然是360度了，然后用一路ctr口即可测试出这路信号的高电平脉宽和整周期宽度，从而可以得到相位差的角度表示。

2006528141661.rar

相位角的测试

想测试一个10MHz的信号接入电容的前后波形的相位差，通过20M的信号发生器和数字化仪能测试出来吗？

20M的信号发生器的速率是指每点的更新率，也就是说如果你要生成一个sine信号（每周期1000个点），那么你生成的sine的频率为20KHz。所以你要得到一个10MHz的sine信号，最好用200MHz的发生器生成，比如NI5422。
再用100MHz（5122）或200MHz（5124）的数字化仪来采就可以了（每个设备正好有2个同步采集的通道）。

数字滤波控件的taps

数字滤波控件的taps是

FIR滤波器的分支数，也可以认为是寄存器的个数。
是滤波器传递函数的阶数，所以就是在进行处理时开窗窗口的长度。
滤波

对采集到的数据进行滤波。采集到的数据都是二维数组，与数字滤波节点连接时告知source和sink类型不同，sink是waveform
可是二维数组如何才能变成waveform？

波形数据类型是一个簇,cluster,你可以先研究一下你的二维数组，把你需要处理的那组数先取出来，可以用数组里的函数。
把这个一位数组组合成一个cluster，怎么做么？waveform的类型是t0,dt,data组成的，分别是起始时间，时间间隔，和数据的一位数组，你把这三项输入到buildwaveform里面就可以生成波形数据类型了。

做倒谱根据的是先求功率谱，再取对数，然后进行傅立叶反变换，可图上显示是一个平底锅底部的线条。
各位高手，谁做过，可否讨论讨论代码，或者发来程序图片看一下，我不肯定自己正确与否。
PS：我测的是一条频率为5幅值为10的正弦波。

你倒谱计算步骤应该是对的，可能是参数设置的问题，建议参考一下现代信号分析的书
LabVIEW中暂时还没有直接计算倒谱的工具函数

LabVIEW的高级信号处理工具包(AdvancedSignalprocessingToolkit)提供了直接计算倒谱的VI，
在这个工具包的子工具包(时间序列分析)中关于倒谱有下面几个VI：
TSARealCepstrum.vi
TSAComplexCepstrum.vi
TSAInverseComplexCepstrum.vi
dutycycledecoding

关于dutycycledecoding
用LabVIEW如何decode占空比？我知道似乎应该用timer，不过不知道具体该怎么弄
有个ExpressVI：TimingandTransitionMeasurement

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LabVIEW的信号处理方法

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