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针对测试设计过程中的挑战，Cadence® Modus测试解决方案采用以下创新功能：
2D压缩：扫描压缩逻辑可在晶片平面布局上构成二维物理感知网格，从而提高压缩比并缩短线长。在压缩比为100倍的情况下，2D压缩线长最高可比业内现行扫描压缩架构缩短2.6倍。
弹性压缩：在自动测试模式生成（ATPG）期间，通过嵌入在解压逻辑中的寄存器，按序控制多个扫描周期的关注数据位，确保压缩比提高至400倍以上时，仍可保持满意的故障覆盖率。
嵌入式存储器总线支撑：插入共享测试访问总线，同一IP核中的多个嵌入式存储器可全速执行可编程存储器内建自测试（PMBIST）。该功能还包括针对鳍式场效应晶体静态随机存储器（FinFET SRAM）和汽车安全应用的全新可编程软件测试算法。
强大的通用脚本和集成调试环境：可测性设计（DFT）逻辑插入及ATPG功能采用全新、且标准统一的TCL脚本语言和调试环境，兼容Cadence Genus™ 综合解决方案、Innovus™ 设计实现系统及Tempus™ 时序签核解决方案。
“Cadence新一代Modus测试解决方案采用全新的创新功能，可以从根本上改变设计和测试工程师解决测试问题的方式。目前，我们正在为这项技术申请专利。”Cadence数字和签核事业部高级副总裁兼总经理Anirudh Devgan博士表示：“Modus测试解决方案通过搭建物理感知的2D网格架构，并按序压缩测试模式（pattern），较传统方法显著缩短了测试时间，为Cadence客户带来又一重要的盈利优势。”
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