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概述
由于目前所使用的电子元件和设备对电磁干扰非常敏感，尤其对“高频”和“瞬态”现象。所以在电子元件和设备的大量使用中，出现了由电和电磁干扰所引起的设备误动作、设备拒动、设备损坏等现象。为了避免和减轻上述问题，提出了对电子元件和带有电子元件的设备要进行电磁兼容(EMC)试验，主要进行浪涌(冲击)抗扰度试验，振荡波抗扰度试验和电快速瞬变脉冲群抗扰度试验。在浪涌(冲击)抗扰度试验和振荡波抗扰度试验中，随着电源线和控制线数量的增多，试验的时间和繁琐度也随着增加。
在多次对受试设备进行试验的过程中，笔者总结出了以下两种可提高试验效率的方法。
去除冗余的方法
根据国标GB/T17625.5-1999，如果受试设备的控制线、信号线中存在功能相同的线，即实现的电路线路相同，则可以选择其中一定数量的线路进行典型测量。例如，在对某电子有限公司生产的CHK-II型重合器控制器进行试验时，它有三根电流线分别标为Ia、Ib、Ic。根据CHK-II型重合器控制器的原理图，Ia、Ib、Ic这三根线的实现线路是相同的，则在浪涌试验中，Ia与其他控制线、信号线的共模和差模试验性质同Ib、Ic与其他控制线、信号线的共模和差模试验，所以我们可对其中的任意两根进行测量(也可对其中的一根测量)。
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