APP下载
登录
作者/ 曹阳1 ,2 xa0 1.中国电子科技集团公司第41研究所 研发1部(安徽 蚌埠 233006) 2.电子信息测试技术安徽省重点实验室(安徽 蚌埠 233006)
*基金项目：国家科技重大专项面向R12 LTE-Advanced终端综合测试仪(编号：2016ZX03002010)
曹阳(1989-)，男，助理工程师，研究方向：通信测量仪器的研究与开发。
摘要：为了实现低相噪的本振信号输出，本文设计出一种基于锁相环芯片ADF4106的低相噪本振源。通过实际调试，测试结果满足设计要求，并作为第二点频本振应用于一款通信测试仪器的中。
引言
低相噪本振是通信测试仪器等现代电子设备系统的核心模块，它对电子设备系统的性能起着决定性的作用。对于低相噪本振的设计，许多人做了大量的研究[1-4]，本文利用锁相环芯片ADF4106设计出一种低相噪本振源，作为第二点频本振应用于一款通信测试仪器中，为测试仪器提供一个5400MHz的下变频信号。
1 方案设计
1.1 设计指标
输出频率：5400MHz
相位噪声：≤-110dBc@1kHz
相位噪声：≤-118dBc@10kHz
输出功率范围：10～12dBm
1.2 设计方案
本方案利用Z-COM公司的压控振荡器CRO5400Z产生5400MHz的输出频率，经过功率分配后，一路通过功率调理电路后输出给整机作为第二点频本振，另一路反馈进入具有分频、鉴相功能的ADI公司的可编程锁相环芯片ADF4106，与100MHz参考经过分频后进行鉴相，通过环路滤波器滤波后驱动压控振荡器产生5400MHz的输出频率。原理框图如图1所示。
2 关键电路设计
2.1 ADF4106电路设计
ADF4106由一个数字鉴相器PD、一个充电泵CP、一个可编程的基准分频器、可编程的A(6位)、B(13位)计数器及一个双模式的前置分频器(P/P+1)组成。内部结构原理图如图2所示。
利用ADF4106和环路滤波器LF(Loop Filter)、压控振荡器VCO(Voltage Controlled Oscillator)可以构成一个锁相环PLL(Phase Locked Loop)。根据ADF4106datasheet提供的公式：
热门文章
