×
研发资源 > 标签 > SCAN技术
|相关技术

一文读懂DC/AC SCAN测试技术

 发布时间：2024-11-06
SCAN技术.也就是ATPG技术-- 测试std-logic. 主要实现工具是:产生ATPG使用Mentor的 TestKompress和synopsys TetraMAX,插入scan chain主要使用synopsys 的DFT compiler 通常.我们所说的DCSCAN就是normal s ...<全部>
  • 157
上一个 下一个
|最新活动
Ecosmos携手第二十六届高交会，开启元宇宙展会新纪元

Ecosmos携手第二十六届高交会，开启元宇宙展会新纪元
|相关标签

技术

硬件开发 EMC IC封装设计 射频RF 单片机IMCU 信号完整性 FPGA 电源 PCB设计 物联网 PCB工艺 PCBA

阅读

电子汇 最新资讯 EDA365原创吧

资源

公开课 研讨会 在线计算器

互动

论坛 外包
电巢APP下载电巢APP下载
关于我们 ｜ 手机版 ｜ EDA365电子论坛网 (粤ICP备18020198号)
GMT, 2020-03-13 09:00 , Processed in 0.109375 second(s), 13 queries , Gzip On.