光频域反射仪-EDA365

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光学反射式分布测量技术浅析

发布时间：2024-11-05

一.概述光学分布探测是一种适用于光纤等连续光学链路的特征参数测量的技术.反射式分布探测是基于测量光背向散射信号.由光传输特性的变化来探测.定位和测量光纤链路上因熔接.连接器.弯曲等造成的光学性能改变. ...<全部>

测试测量应用

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