×
研发资源 > 标签 > 应力诱导曲率SiC
|相关技术

应力诱导曲率对4H-SiC MOS平带电压和界面态密度的影响

 发布时间：2024-06-26
文章发现样品的横光学(TO)声子波数与薄膜的曲率有关.这表明应力主要会影响SiO2 ／ SiC的界面.根据实验结果.本文作者提出[无应力"氧化膜可能是SiC-MOSFET应用的最佳选择. ...<全部>
  • 95
上一个 下一个
|最新活动
电巢科技与CIOE中国光博会联袂巨献：激光雷达技术应用研讨会圆满落幕！

电巢科技与CIOE中国光博会联袂巨献：激光雷达技术应用研讨会圆满落幕！
|相关标签

技术

硬件开发 EMC IC封装设计 射频RF 单片机IMCU 信号完整性 FPGA 电源 PCB设计 物联网 PCB工艺 PCBA

阅读

电子汇 最新资讯 EDA365原创吧

资源

公开课 研讨会 在线计算器

互动

论坛 外包
电巢APP下载电巢APP下载
关于我们 ｜ 手机版 ｜ EDA365电子论坛网 (粤ICP备18020198号)
GMT, 2020-03-13 09:00 , Processed in 0.109375 second(s), 13 queries , Gzip On.