条状过孔-EDA365

研发资源 > 标签 > 条状过孔

|相关技术

传统过孔数显著增加条状过孔成大势所趋

发布时间：2020-07-08

摘要:对于28纳米及以下节点.选择和放置多种过孔类型的复杂要求对LEF/技术文件的绕线构成了挑战.导致设计规则检查 (DRC) 错误增多(需要耗费时间来调试和改正).最终影响了良率和性能.对于28纳米及以下节点. ...<全部>

模拟电路设计

|

22

传统过孔数显著增加条状过孔成大势所趋

发布时间：2020-06-23

摘要:对于28纳米及以下节点.选择和放置多种过孔类型的复杂要求对LEF/技术文件的绕线构成了挑战.导致设计规则检查 (DRC) 错误增多(需要耗费时间来调试和改正).最终影响了良率和性能. 对于28纳米及以下节 ...<全部>

集成电路

|

20

上一个下一个

第26届高交会元宇宙完美收官，数字化参会体验引爆全场

第26届高交会元宇宙完美收官，数字化参会体验引爆全场

|相关标签

过孔数

|热门文章

传统过孔数显著增加条状过孔成大势所趋

传统过孔数显著增加条状过孔成大势所趋