测试基础-EDA365

研发资源 > 标签 > 测试基础

|相关应用领域

IC测试原理解析(第四部分―射频/无线芯片测试基础

发布时间：2021-03-16

芯片测试原理讨论在芯片开发和生产过程中芯片测试的基本原理.一共分为四章.下面将要介绍的是最后一章.第一章介绍了芯片测试的基本原理.第二章介绍了这些基本原理在存储器和逻辑芯片的测试中的应用.第三章介绍了 ...<全部>

测试测量应用

|

164

电路板测试基础

发布时间：2024-11-22

一.为什么要关心供电质量?在办公室和家里的[单相"供电环境里.总希望有持续不断的220V电源为电路中的设备供电.事实上.电压是持续变化的.为 ...<全部>

测试测量应用

|

91

IC测试原理解析(第四部分―射频/无线芯片测试基础)

发布时间：2024-11-22

芯片测试原理讨论在芯片开发和生产过程中芯片测试的基本原理.一共分为四章.下面将要介绍的是最后一章.第一章介绍了芯片测试的基本原理.第二章介绍了这些基本原理在存储器和逻辑芯片的测试中的应用.第三章介绍了 ...<全部>

测试测量应用

|

141

上一个下一个

支持PCIe 6.0！国产时钟芯片的创新发展史

支持PCIe 6.0！国产时钟芯片的创新发展史

|相关标签

|热门文章

IC测试原理解析(第四部分―射频/无线芯片测试基础

你不可不知的电源测试基础知识