研发资源 > 标签 > 片内过采样
|相关技术

ADI-AD7380系列SAR ADC的片内过采样解析

 发布时间：2024-12-23
简介本应用笔记讨论逐次逼近寄存器(SAR)型模数转换器(ADC)中的片内过采样.常见过采样技术有两种:正常平均和滚动平均.这些技术是在AD7380/AD7381及其高吞吐速率SAR ADC系列中执行的.因此平均转换数据可以直接获得 ...<全部>
  • 22
上一个 下一个
|最新活动
一颗引发行业变革的红外芯片

一颗引发行业变革的红外芯片
|相关标签

技术

硬件开发 EMC IC封装设计 射频RF 单片机IMCU 信号完整性 FPGA 电源 PCB设计 物联网 PCB工艺 PCBA

阅读

电子汇 最新资讯 EDA365原创吧

资源

公开课 研讨会 在线计算器

互动

论坛 外包
电巢APP下载电巢APP下载
关于我们 ｜ 手机版 ｜ EDA365电子论坛网 (粤ICP备18020198号)
GMT, 2020-03-13 09:00 , Processed in 0.109375 second(s), 13 queries , Gzip On.