研发资源 > 标签 > 采样调试
|相关技术

STM32F的利用HAL库ADC转换DMA方式多通道采样调试总结

 发布时间：2020-08-21
1.规则模式下.用户内存缓冲区的数据宽度需要和DMA设置的数据宽度一致.如下:typedef struct rt_device_hwadc { struct rt_device parent; const struct rt_hwadc_ops *ops; uint8_t flag_adc_convert_complete; _ ...<全部>
  • 139
上一个 下一个
|最新活动
一颗引发行业变革的红外芯片

一颗引发行业变革的红外芯片
|相关标签
|热门文章
STM32F的利用HAL库ADC转换DMA方式多通道采样调试总结

技术

硬件开发 EMC IC封装设计 射频RF 单片机IMCU 信号完整性 FPGA 电源 PCB设计 物联网 PCB工艺 PCBA

阅读

电子汇 最新资讯 EDA365原创吧

资源

公开课 研讨会 在线计算器

互动

论坛 外包
电巢APP下载电巢APP下载
关于我们 ｜ 手机版 ｜ EDA365电子论坛网 (粤ICP备18020198号)
GMT, 2020-03-13 09:00 , Processed in 0.109375 second(s), 13 queries , Gzip On.