量测系统-EDA365

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大尺寸LCD光学量测系统

发布时间：2020-07-20

◎量测／测试所面临之问题欲建构LCD光学量测系统来检验面板品质.将面临的问题有:1. 建立一套量测系统可快速对面板上某一点之9点.13点.25点均齐度之Luminance(辉度).CIE(色座标).Chromaticity. VIEW ANGLE.Con ...<全部>

显示技术

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KLA-Tencor为尖端集成电路器件技术推出全新量测系统

发布时间：2020-06-12

2017年3月14日.KLA-Tencor公司(纳斯达克股票代码:KLAC)针对10纳米以下(sub-10nm)集成电路(IC)器件的开发和批量生产推出四款创新的量测系统:Archer™600叠对量测系统.WaferSight™ PWG2图案晶片几何特征测量 ...<全部>

电源硬件技术

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