LIV测试系统的结构组成和应用分析-EDA365

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LIV测试系统的结构组成和应用分析

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图1示出了LIV测试系统的组成，包括2602型源表、2510-AT型自动温度控制源表和一台配备了GPIB接口板的计算机。

2602型源表是一个双通道的源表（SMU），可以在提供源电压或电流的同时进行电压和电流的测量。这样用一个SMU通道即可以为待测器件（DUT）提供源电流，并进行电压测量，而用另一个通道监测DUT附近探测器的光电流，为LIV测试提供了“单机箱化”的思路。

2510-AT型自动温度控制源表控制着制冷片TEC，保持待测模组处于恒定的温度上。

计算机通过GPIB总线对各个源－表进行编程，协调测试进程，收集并分析得到的测量结果。

图1 激光二极管模组典型LIV测试系统框图，2602用以对模组进行特性测试并监测输出光强度，2510-AT控制整个模组的温度

提升测试程序速度：吉时利的TSP

在众多仪器中，计算机控制了测试的方方面面。在测试的每一个步骤中，必须对测试设备进行配置，使其执行所希望的操作后，将相应数据返给控制计算机（如图2所示）。然后控制计算机根据标准进行合格/不合格的判定，执行合适的操作来分拣测试器件。发出和执行每一条命令都会消耗宝贵的生产时间，降低产量。

显然，测试程序中大部分的时间用在与控制计算机交换信息上。2600系列设备可以减少通信总线的信息流量，从而极大地增加整个复杂测试程序的吞吐量。在这些设备中，大部分的测试程序都是嵌入在设备中的。测试脚本处理器（TSP）是一种全功能的测试序列引擎，可以实现对测试序列的控制，可内设合格/不合格准则、算术运算、计算以及数字I/O控制等（参见图3所示的2602型设备的测试序列）。TSP可以将用户自定义的测试序列存入其存储器中，在收到命令时调用执行。这样限制了测试序列中每一步的建立和配置时间，通过减少与设备和控制计算机的通信量增加了吞吐量。