测试STM32F4中断向量表移到内部RAM对中断响应速度的影响-EDA365

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测试STM32F4中断向量表移到内部RAM对中断响应速度的影响

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测试环境：STM32F407 168MHz，IAR 7.4，优化级别low

测试方法：第一个信号是TIM比较器的输出，同时产生比较器中断。中断服务程序里第一句就立即拉高一个GPIO，示波器查两个信号的延迟大致了解中断响应速度。

中断向量表在Flash，中断服务程序在Flash，延迟约155ns：

中断向量表在内部RAM，中断服务程序在Flash，少了约20ns

中断向量表在内部RAM，中断服务程序在内部RAM，看起来没多大区别：

说明：这个测试方法中断响应延时并不准确，因为GPIO拉高至少要两条指令，还加上总线访问延迟和GPIO输出延时。不过也还是能得到自己想要的结果：中断发生到执行结果要多长时间。

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