TIS和天线效率-EDA365

作为天线OTA测试的两个核心指标（TRP和TIS）之一，TIS值代表了天线接收性能（其实也是整机性能）的优劣。相比于TRP，TIS值和天线性能的关系相对复杂，并非直观易懂，以至于很多人说不清楚这个概念的定义，或者即使知道定义，也不明白这个量和天线性能究竟什么关系。

比如，我甚至听业内一些工程师认为天线效率越低，TIS表现越好。按照这个逻辑，不需要接天线最好了，接收机可以直接检测宇宙背景辐射了……另一个常见的谬误，是认为天线效率和TIS成简单的反比，效率增加1dB，那么TIS减小1dB。

本文尝试简单描述TIS和天线效率的关系，方便以后查阅。

假设接收天线的输出位置处，信号强度为S_A，天线噪声温度为T_A，OTA测量室物理温度为 T_P，来自设备其他有源部件的导致TIS指标de-sense的噪声为T_d，天线效率为η，那么接收天线输出口的信号强度和噪声强度分别可以表示为

其中，a为与接收天线的效率之外其他所有参数相关的一个常数（为了计算方便），k为玻尔兹曼常数，B为频带宽度。

假设接收天线的后面的RF链路的总增益为G，等效噪声系数为F，那么RF链路的末端处信噪比为

由上式可见，接收机RF链路输出端的信噪比随着天线效率增加而提高，但并非成正比。

TIS与天线效率的关系待续。

来源：知乎坡印廷

来源：微波射频网

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