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介质损耗仪是一种测试高压绝缘体性能状况的仪器，原理为从标准通道取得的电信号与被试通道取得的电信号相比较、分析与处理来得出被试体的绝缘状况。被试体可等效为电阻与电容的并联。图1为原理结构图。在分析处理中，需要得出精确的两个通道信号的大小， 和求出两通道信号的相角之差。由于采样环境恶劣与对采样精度的高要求，采样设计应注意：一：采用高的采样频率，拓宽原始信号的频域，保证原始信号的最小失真的采样；二：为克服采样的坏环境和得到高精度的 A/D转换量化值，应选用高精度与高线性度的A/D转换芯片；三：为保证相角差的测量，两个通道应同时开始采样；三DFT处理：为了对采样来的离散点信号进行快速傅立叶变换，采样的时间段为一个周期。在实时采样中采样频率实现的问题上，有多种方案，可以由嵌入式的微处理控制器设定频率触发A/D转换器的采样，像如利用DSP处理芯片其采样周期只有25ns甚至更小；也可设计专门的硬件组成触发电路。在本仪器中是利用一种普通的微控器（80C196）结合锁相环组成的外围硬件触发采样的。下面讲述这种采样的原理与实现。
1 原理介绍
由于单位周期内采样点越多，测得的值就越精确。本设计中一个原始信号周期拟采样512个点，工频的频率为50Hz，所以采样频率大概就是25600Hz，其可包含更宽的原始信号频域，采样更真实。采样就是要把真实的信号存入处理器存贮内，以供处理调用。此全过程有采样触发与A/D转换两个部分。
1.1 采样触发
采样触发图如下：
图2 触发电路
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