泰克科技日前发布了全新 Keithley S530 系列参数测试系统，该系统搭载了 KTE 7 软件，提供更多增强功能。S530 平台使半导体制造商为高速增长的新技术增加参数测试功能，同时最大程度地减少资本投入和提高每小时晶圆制造效率。这将降低整体拥有成本，帮助制造商在竞争激烈的新兴市场中应对巨大的价格压力。

基于新兴 GaN 和 SiC 宽禁带技术的新型半导体产品，有望实现更快的开关速度，更宽的温度范围，更好的功率效率，以及其他更多增强功能。为满足这些产品的测试需求，基于 KTE 7 的 S530 平台拥有实验室级测量性能，并且设置和测试时间最短。针对新应用的出现和需求的变化，可以实现高达 1100V 的全面灵活的高速配置。芯片制造商以最少的测试 / 设置时间，在单个系统上、以最少的投资，可以经济高效地扩展到高增长的功率和宽禁带器件中(包括汽车市场)。

“模拟和混合信号半导体制造商在 5G 通信、汽车、物联网、医疗、绿色能源等市场，不断受到新的最终用户应用的强劲需求。”吉时利 / 泰克公司副总裁兼总经理 Chris Bohn 说，“测试平台的这一重大升级，可以帮助这些客户更迅速、更经济地向市场上推出新产品，同时使他们能够适应未来的新要求。”

S530 系列的创新技术在多种产品组合中最大化仪器的利用率，现有的测试软件、探头卡和其他项目可以简便实现升级换代，同时全面实现数据关联，明显改善速度。S530-HV 能够在任何引脚上测试高达 1100V 的电压，与功率和宽禁带应用中的其他竞争系统相比，吞吐量可提升 50%以上。芯片制造商可以使用单个系统测试多种产品组合，包括根据 IATF-16949 质量管理标准进行汽车产品测试，也可以通过泰克的服务机构进行校准，以提供全球范围内的优质人员支持。

基于 KTE 7 的平台为半导体制造商的传统 S600 和 S400 系统提供了最简便、最经济的演进道路，在保持全面数据关联的同时，与 S600 相比，吞吐量可以提高达 25%。

功能明显增强，并创下多项业界第一

• 从低压(<200V)转移到高压(>200V)晶圆级测试时，S530-HV 选配的 Testhead 省去了更换仪表、探针卡和线缆测试设置所需的操作员时间。通过 Testhead 测试头，探针卡可以兼容多家厂商的多种型号，从而可以更快地更换探针卡，并根据 ISO-17025 进行引脚校准，同时保持向后兼容性。这可以最大限度地降低演进成本，保护了用户投资，同时支持各种新的要求，比如 IATF-16949 汽车标准。

• S530-HV 可以在任何引脚上测试高达 1100V 的电压，其吞吐量在功率和宽禁带应用中较竞争系统提高 50%以上。操作人员可以把任何测试资源以任何顺序连接到任何测试引脚，迅速简便地满足生产要求，而无需重新配置或重新装备信号路径。

• KTE 软件兼容能力大大简化并加快了例如从传统 S600 系统的演进道路，实现全面数据关联，吞吐量可提高达 25%。

• 内置瞬态过压 / 过流保护防止意外损坏探针卡、探针和仪器，这在高速宽禁带应用中尤为关键。

• 在系统校准过程中，全新 5880-SRU 系统基准单元自动切换所有 DC 和 AC 参考标准，而无需手动连接或断开。这种全自动流程大大缩短了执行校准时的系统中断时间，降低了后续支持成本，进而降低了整体拥有成本。

供货情况

S530 系列参数测试系统现已在全球范围内上市。