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对满足嵌入式系统电路特性测试需求的JTAG技术分析

 发布时间：2024-10-19
引言IEEE 1149.1边界扫描测试标准(通常称为JTAG.1149.1或"dot 1")是一种用来进行复杂IC与电路板上的特性测试的工业标准方法.大多数复杂电子系统都以这种或那种方式用到了IEEE1149.1(JTAG)标准.为了更好地理解这种 ...<全部>
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