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博达微发布业界首创AI驱动的半导体参数一体化测试系统

发布时间：2020-05-25

近日.基于美国国家仪器 (National Instruments.以下简称[NI") 的PXI源测量单元 (SMU).专注利用人工智能驱动半导体测试测量的北京博达微科技有限公司 (简称[博达微") 宣布推出最新基于机器学习的半导体参数化测试 ...<全部>

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一颗引发行业变革的红外芯片

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