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基于ATE的FPGA测试方法

 发布时间：2024-12-20
1 引言 随着集成电路技术的发展.现场可编程门阵列FPGA(Field Programmable Gate Array)器件的应用越来越广泛.其测试技术也得到了广泛重视和研究.FPGA的测试可分为面向制造的测试过程(MTP)和面向应用的测试过程(AT ...<全部>
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