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C8051F005
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1引言在电路测试过程中常常会碰到由于忽略某些小电阻的影响引起实验数据与理论值之间存在较大误差.从而影响测试效果例如电感器变压器中往往存在铜电阻.地铁铁轨的电阻,由于其数值较小.一般的指针万用表无法测量 ...
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1 引言在自适应光学合成孔径成像系统中.某个孔径通道的原始信号相位信息因大气.载体振 动等因素引起发生变化时.冗余信息就会将两两通道的变化信息反映出来.通过光学系统提 取出用于冗余间隔校正的信息.经过计算 ...
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C8051F005在高速误码测试系统中的运用
发布时间:2020-06-06
本文根据Vitesse公司的VSC8228芯片特点.利用C8051F005单片机设计出一种价廉的高速误码测试仪.下面将对其软硬件设计.特别是C8051F005与上位机的串口通信以及与VSC8228的SPI通信进行详细探讨. 1 误码测试系统概 ...
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