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NAND FLASH ECC校验原理与实现

 发布时间：2020-06-08
ECC简介 由于NAND Flash的工艺不能保证NAND的Memory Array在其生命周期中保持性能的可靠.因此.在NAND的生产中及使用过程中会产生坏块.为了检测数据的可靠性.在应用NAND Flash的系统中一般都会采用一定的坏区 ...<全部>
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