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基于FPGA实现逻辑芯片的功能故障测试

 发布时间：2020-07-07
在最原始的测试过程中.对集成电路(IntegratedCircuit,IC)的测试是依靠有经验的测试人员使用信号发生器.万用表和示波器等仪器来进行测试的.这种测试方法测试效率低.无法实现大规模大批量的测试.随着集成电路的 ...<全部>
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