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SoC设计中结构测试仪的矢量生成原理

 发布时间：2020-06-15
深亚微米和纳米设计中出现了新的缺陷类型.单开发和使用功能性矢量已经无法满足对产品测试的实际需求.扫描.AC扫描.逻辑内建自测试(LBIST)和存储器BIST这类结构测试方法为理解设计规范.识别生产和设计中的缺陷. ...<全部>
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