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基于计数器的随机单输入跳变测试序列生成

 发布时间：2020-06-22
随着超大规模集成电路和系统级芯片(SoC)的发展.集成电路的测试面临越来越多的困难.尤其在测试模式下的功耗大大高于工作模式时的问题已经引起了研究人员的重视.随着IC工作频率.集成度.复杂度的不断提高.IC的功 ...<全部>
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基于计数器的随机单输入跳变测试序列生成

 发布时间：2020-05-21
随着超大规模集成电路和系统级芯片(SoC)的发展.集成电路的测试面临越来越多的困难.尤其在测试模式下的功耗大大高于工作模式时的问题已经引起了研究人员的重视.随着IC工作频率.集成度.复杂度的不断提高.IC的功 ...<全部>
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EDA“新贵”悄然崛起，推动自主可控进度条，这家公司凭什么

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