分离栅极-EDA365

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分离栅极闪存循环擦写引起退化分量剖析

发布时间：2020-06-20

SuperFlash®技术基于分离栅极概念.广泛用于独立和嵌入式NOR闪存产品.与其他竞争解决方案相比.SuperFlash的主要优势包括:因采用较厚的隧道电介质层而具有卓越的可靠性.不存在过擦除问题并且设计简洁.与其他基于 ...<全部>

嵌入式开发

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剖析分离栅极闪存循环擦写引起的退化分量.简单粗暴!

发布时间：2024-11-25

了解退化分量的绝对影响和相对影响有助于确定限制SuperFlash耐擦写次数的最关键因素.进而对单元工艺和/或工作条件做出相应的优化.故本文提出了一种简单快速的方法来分析SuperFlash分离栅极存储单元中循环擦 ...<全部>

RF技术

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分离栅极

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