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低功耗制造测试的设计

 发布时间：2021-03-03
关键字:低功耗制造测试完全的数字电路测试方法通常能将动态功耗提高到远超出其规范定义的范围.如果功耗足够大.将导致晶圆检测或预老化(pre-b ...<全部>
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