可控发射-EDA365

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使用时间可控发射方法来进行模拟电路的失效分析

发布时间：2020-07-07

时间可控发射方法(TRE)是一种常用的非入侵式波形测量方法.它能从芯片的背面探测芯片内部节点的时序波形.完美的TRE系统能提供很高的带宽 (5GHz). 很好的探测尺寸精度 (0.25微米). 而且能显示芯片内部所有 ...<全部>

模拟电路设计

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使用时间可控发射方法来进行模拟电路的失效分析

发布时间：2020-06-22

时间可控发射方法(TRE)是一种常用的非入侵式波形测量方法.它能从芯片的背面探测芯片内部节点的时序波形.完美的TRE系统能提供很高的带宽 (5GHz). 很好的探测尺寸精度 (0.25微米). 而且能显示芯片内部所有 ...<全部>

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