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免接头式探测技术执行DDR验证的可行性分析

 发布时间：2021-05-18
DDR的可测试性应成为最终设计的一部份.以利于在测试台进行系统的验证.因为在整个产品生命周期中的工程设计与委外代工都会增加成本.然而碍于逻辑分析仪探测点的电气负载与空间需求.这种作法直到今天仍不可行.新 ...<全部>
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