×
研发资源 > 标签 > 坏动态自检程序
|相关技术

STC单片机IO管脚毁坏动态自检程序

 发布时间：2020-06-03
#include#include#include#include#include#pragma NOAREGS//STC ISP_V2.0 PCB的晶振为18.432MHz#define WdtTime_71_1mS 0x30 //71.1mS#define WdtTime_141_2mS 0x31 //141.2mS#define WdtTime_284_4mS 0x32 //2 ...<全部>
  • 64
上一个 下一个
|最新活动
Ecosmos携手第二十六届高交会，开启元宇宙展会新纪元

Ecosmos携手第二十六届高交会，开启元宇宙展会新纪元
|相关标签
|热门文章
STC单片机IO管脚毁坏动态自检程序

技术

硬件开发 EMC IC封装设计 射频RF 单片机IMCU 信号完整性 FPGA 电源 PCB设计 物联网 PCB工艺 PCBA

阅读

电子汇 最新资讯 EDA365原创吧

资源

公开课 研讨会 在线计算器

互动

论坛 外包
电巢APP下载电巢APP下载
关于我们 ｜ 手机版 ｜ EDA365电子论坛网 (粤ICP备18020198号)
GMT, 2020-03-13 09:00 , Processed in 0.109375 second(s), 13 queries , Gzip On.