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使用序列门控在扫描位移中实现强大的时序闭合

 发布时间：2020-06-28
如今.所有SOC都使用扫描结构来检测设计中的任何制造缺陷.扫描链专为测试而设计.按串行形式连接芯片的时序元件.由于扫描元件之间缺少组合逻辑.因此这些扫描链容易出现保持故障.除了采用小于90纳米的技术外.OCV ...<全部>
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