研发资源 > 标签 > 时序闭合
|相关技术

使用序列门控在扫描位移中实现强大的时序闭合

 发布时间：2020-06-28
如今.所有SOC都使用扫描结构来检测设计中的任何制造缺陷.扫描链专为测试而设计.按串行形式连接芯片的时序元件.由于扫描元件之间缺少组合逻辑.因此这些扫描链容易出现保持故障.除了采用小于90纳米的技术外.OCV ...<全部>
  • 79
上一个 下一个
|最新活动
第26届高交会元宇宙完美收官，数字化参会体验引爆全场

第26届高交会元宇宙完美收官，数字化参会体验引爆全场
|相关标签
|热门文章
使用序列门控在扫描位移中实现强大的时序闭合

技术

硬件开发 EMC IC封装设计 射频RF 单片机IMCU 信号完整性 FPGA 电源 PCB设计 物联网 PCB工艺 PCBA

阅读

电子汇 最新资讯 EDA365原创吧

资源

公开课 研讨会 在线计算器

互动

论坛 外包
电巢APP下载电巢APP下载
关于我们 ｜ 手机版 ｜ EDA365电子论坛网 (粤ICP备18020198号)
GMT, 2020-03-13 09:00 , Processed in 0.109375 second(s), 13 queries , Gzip On.