研发资源 > 标签 > 微小长度测量
|相关技术

基于单片机改造迈氏干涉仪自动测量微小长度

 发布时间：2020-06-10
0 引言 薄膜厚度是薄膜性能参数的重要指标.如何准确.快速.方便地测量膜厚在实验中具有十分重要的意义.迈克尔逊干涉仪测量激光波长是大学物理实验中重要的一部分.实验时实验者手动调节微调手轮.人眼观察干涉 ...<全部>
  • 71
上一个 下一个
|最新活动
大咖云集 | “智能消费电子创新发展论坛”圆满落幕

大咖云集 | “智能消费电子创新发展论坛”圆满落幕
|相关标签
|热门文章
基于单片机改造迈氏干涉仪自动测量微小长度

技术

硬件开发 EMC IC封装设计 射频RF 单片机IMCU 信号完整性 FPGA 电源 PCB设计 物联网 PCB工艺 PCBA

阅读

电子汇 最新资讯 EDA365原创吧

资源

公开课 研讨会 在线计算器

互动

论坛 外包
电巢APP下载电巢APP下载
关于我们 ｜ 手机版 ｜ EDA365电子论坛网 (粤ICP备18020198号)
GMT, 2020-03-13 09:00 , Processed in 0.109375 second(s), 13 queries , Gzip On.