日本产综研-EDA365

研发资源 > 标签 > 日本产综研

|相关技术

日本产综研采用半导体技术开发出芯片面积在1mm2以下的光开关

发布时间：2024-12-23

产品特性:面积降至万分之一以下处理速度提高到1000倍相位控制效率提高到10倍应用范围:从时分复用的光信号中指定信道日本产业技术综合研究所宣布.采用半导体技术开发出了芯片面积在1mm2以下的光开关.与原来由单个 ...<全部>

技术百科

|

165

上一个下一个

一颗引发行业变革的红外芯片

一颗引发行业变革的红外芯片

|相关标签