×
研发资源 > 标签 > 日本产综研
|相关技术

日本产综研采用半导体技术开发出芯片面积在1mm2以下的光开关

 发布时间：2024-11-03
产品特性:面积降至万分之一以下处理速度提高到1000倍相位控制效率提高到10倍应用范围:从时分复用的光信号中指定信道日本产业技术综合研究所宣布.采用半导体技术开发出了芯片面积在1mm2以下的光开关.与原来由单个 ...<全部>
  • 165
上一个 下一个
|最新活动
国产PCIe Retimer芯片！破解高速传输信号完整性难题

国产PCIe Retimer芯片！破解高速传输信号完整性难题
|相关标签

技术

硬件开发 EMC IC封装设计 射频RF 单片机IMCU 信号完整性 FPGA 电源 PCB设计 物联网 PCB工艺 PCBA

阅读

电子汇 最新资讯 EDA365原创吧

资源

公开课 研讨会 在线计算器

互动

论坛 外包
电巢APP下载电巢APP下载
关于我们 ｜ 手机版 ｜ EDA365电子论坛网 (粤ICP备18020198号)
GMT, 2020-03-13 09:00 , Processed in 0.109375 second(s), 13 queries , Gzip On.