研发资源 > 标签 > 最小电压检测
|相关技术

CMOS集成电路潜在缺陷的最小电压检测

 发布时间：2021-07-29
引 言 有潜在缺陷的芯片有可能通过生产测试.但是在实际应用中却会引起早期失效的问题.进而引起质量问题.为了避免这个问题.就需要在产品卖给客户之前检测出这种有问题的芯片.一般的检测技术包括Burn-in.IDDQ ...<全部>
  • 28
上一个 下一个
|最新活动
第26届高交会元宇宙完美收官，数字化参会体验引爆全场

第26届高交会元宇宙完美收官，数字化参会体验引爆全场
|相关标签
|热门文章
CMOS集成电路潜在缺陷的最小电压检测

技术

硬件开发 EMC IC封装设计 射频RF 单片机IMCU 信号完整性 FPGA 电源 PCB设计 物联网 PCB工艺 PCBA

阅读

电子汇 最新资讯 EDA365原创吧

资源

公开课 研讨会 在线计算器

互动

论坛 外包
电巢APP下载电巢APP下载
关于我们 ｜ 手机版 ｜ EDA365电子论坛网 (粤ICP备18020198号)
GMT, 2020-03-13 09:00 , Processed in 0.109375 second(s), 13 queries , Gzip On.